圖10-24給出了在調制斜入射頻譜法中信號的處理過程。圖10-24a為垂直入射條件下的時域反射信號。圖10-24b給出了在垂直入射的條件下，對于半個調制循環周期經過反卷積處理后的一組典型頻譜。諧振極小值的移動用虛線箭頭表示。由這些頻譜，進一步得到調制諧振頻率 與調制時間的關系曲線，如圖10-24c所示。最后，從該調制信號中獲得調制頻譜，如圖10-24d所示。在調制頻譜中，基于粘接質量良好的涂層的頻率極小值，對頻譜極小值移動量進行歸一化處理。在50Hz處的第一個諧波調制振幅 ，表示在附加了外部調制應力的條件下，諧振頻率 的振幅。在100Hz處的第二個諧波調制振幅 ，表示了諧振頻率 的移動量與調制應力之間的非線性關系。

圖10-25給出了三種不同粘接狀態的調制頻譜。在20mm×50mm區域內，按照雙聲束反射模式進行掃描，其掃描結果(調制指數）通過不同級別的灰度圖像來表示，如圖10-26a、b所示?；叶葓D像表示在50Hz條件下的一次諧波調制振幅，較暗區域表示頻率調制指數較高。圖10-26a、b分別對應垂直入射和斜入射的情況。在兩種圖像中，都出現了從粘接質量劣化區域(右側底部“D”標注的區域）到良好粘接區域(左側頂部“G”標注的區域）的過渡。圖中的對比度非常高，其調制指數從1%~0.01%變化。從圖中可以看出，破壞是從邊緣區域(“D”標注的區域）向內部發展?！癎”標示的區域代表了無損傷的區域。這個結果與高分辨率的C掃描成像結果相一致(50MHz聚焦C掃描，這里沒有給出圖像）。

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